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VERTEX 70v真空光谱仪非常适用于需要高灵敏度、高稳定性和高时间分辨率的研究应用。低至远红外/太赫兹的光谱范围,使之还适用于工业领域的特定应用。多功能VERTEX 70v系统通过与适当的附件及相应的测试技术相结合,可为FTIR光谱分析领域需求提供解决方案。
制药
材料科学
半导体
全真空光学台设计
其全真空的光学设计,使VERTEX 70v在中红外、近红外及远红外谱区具备极高的灵敏度,使用户无需再担心水蒸气或二氧化碳的吸收会干扰或覆盖谱图中极弱的特征信号。
宽光谱范围通过采用不同的光学配件 VERTEX 70v 可以覆盖从远红外 10 cm-1 到紫外光区 28.000 cm-1 的超宽光谱区域。
人工智能系统人工智能系统包含自动识别测量附件、自动识别光学配件、自动调用及检查测量参数,使得傅立叶红外光谱测量变得更简单、更快速且更可靠。另外,实时在线监控系统彻底简化了对仪器工作状态和性能指标的监测工作。一体化的软件包将全面支持上述功能。
即插即用:使用简便
研发
用于时间分辨以及幅度调制(AM)相位调制(PM)光谱的连续和步进扫描技术 (步进扫描 / 快速扫描 / 交叉扫描时间分辨光谱 TRS)
真空中的FT-IR光谱分析
用于电极表面和电解质的原位研究的FT-IR光谱电化学
蛋白质水溶液研究 (CONFOCHECK)
确定分子的绝对构型 (VCD)
通对药物产品的稳定性和挥发物含量进行表征 (TGA-FT-IR)
远红外谱区区分活性药物成分的多晶型物 (BRUKER FM)
聚合物与化学
远红外谱区识别聚合物复合材料中的无机填料 (BRUKER FM)
聚合物动态和流变学研究
测定挥发性化合物及表征热分解过程 (TGA-FTIR)
反应监测和反应控制 (中红外光纤探头)
识别无机矿物质和颜料
表面分析
薄膜和单分子层检测与表征
结合偏振调制进行表面分析 (PM-IRRAS)
光学和高反射材料(光窗、反射镜)的表征
通过光声光谱学(PAS)研究深色物质和深度剖析
材料的发射行为表征